KLA Filmetrics F40薄膜厚度測量儀

簡要描述：KLA Filmetrics F40薄膜厚度測量儀通過將顯微鏡轉變?yōu)楸∧y量工具，實現(xiàn)小至1微米光斑的厚度和折射率測量。該設備配備集成彩色攝像機，可在1秒內完成測量，并且支持多種型號以適應不同厚度和波長范圍的需求。用戶只需將其連接至Windows計算機并通過USB端口操作即可。此外，F(xiàn)40系列提供全面的技術支持和材料庫，方便用戶進行精確測量。

產(chǎn)品型號：

所屬分類：薄膜厚度測量儀

更新時間：2025-03-10

廠商性質：生產(chǎn)廠家

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詳情介紹

將您的顯微鏡變成薄膜測量工具

KLA Filmetrics F40薄膜厚度測量儀產(chǎn)品系列用于測量小到 1 微米的光斑。對大多數(shù)顯微鏡而言KLA Filmetrics F40薄膜厚度測量儀能簡單地固定在 c 型轉接器上，這樣的轉接器是顯微鏡行業(yè)標準配件。

F40 配備的集成彩色攝像機，能夠對測量點進行準確監(jiān)控。在 1 秒鐘之內就能測定厚度和折射率。像我們所有的臺式儀器一樣，F(xiàn)40 需要連接到您裝有 Windows 計算機的 USB 端口上并在數(shù)分鐘內完成設定。

包含的內容：

集成光譜儀/光源裝置
FILMeasure 8 軟件
FILMeasure 獨立軟件 (用于遠程數(shù)據(jù)分析)
MA-Cmount 安裝轉接器顯微鏡轉接器
光纖連接線
BK7 參考材料
TS-Focus-SiO2-4-10000 厚度標準聚焦/厚度標準
BG-Microscope (作為背景基準)

型號規(guī)格

型號	厚度范圍	波長范圍
F40	20nm-40μm	400-850nm
F40-EXR	20nm-120μm	400-1700nm
F40-NIR	40nm-120μm	950-1700nm
F40-UV	4nm-40μm	190-1100nm
F40-UVX	4nm-120μm	190-1700nm